- время включения интегральной микросхемы
-
время включения интегральной микросхемы
время включения
Интервал времени между уровнем 0,5 управляющего напряжения интегральной микросхемы и заданным уровнем выходного напряжения в режиме включения.
Обозначение
tвкл
ton
[ГОСТ 19480-89]Тематики
- микросхемы
Синонимы
- время включения
Справочник технического переводчика. – Интент. 2009-2013.
время задержки включения интегральной микросхемы — время задержки включения Интервал времени между входным и выходным импульсами при переходе напряжения на выходе интегральной микросхемы от напряжения высокого уровня к напряжению низкого уровня, измеренный на уровне 0,1 или на заданных значениях… … Справочник технического переводчика
время — 3.3.4 время tE (time tE): время нагрева начальным пусковым переменным током IА обмотки ротора или статора от температуры, достигаемой в номинальном режиме работы, до допустимой температуры при максимальной температуре окружающей среды. Источник … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
Пошлина — (Duty) Содержание Содержание 1. Понятие и значение государственной Антидемпинговая пошлина как мера государственного регулирования внешнеторговой деятельности 2. Виды государственной пошлины 3. Место государственной пошлины в 4. Плательщики,… … Энциклопедия инвестора
Инновация — (Innoatsiya) Определение инноваций, инновационная деятельность Определение инноваций, инновационная деятельность, инновационная политика Содержание Содержание Общее определение новаций Инновация и др. похожие понятия Что такое новация Основы… … Энциклопедия инвестора
ГОСТ 25532-89: Приборы с переносом заряда фоточувствительные. Термины и определения — Терминология ГОСТ 25532 89: Приборы с переносом заряда фоточувствительные. Термины и определения оригинал документа: 21. Абсолютная неравномерность выходного сигнала ФППЗ Разность максимального и минимального значений выходного сигнала ФППЗ по… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
РЕНТГЕНОВСКАЯ ТОПОГРАФИЯ — совокупность рентг. дифракц. методов изучения разл. дефектов строения в почти совершенных кристаллах. К таким дефектам относятся: блоки и границы структурных элементов, дефекты упаковки, дислокации, скопления атомов примесей. Осуществляя… … Физическая энциклопедия
Транзистор — Дискретные транзисторы в различном конструктивном оформлении … Википедия